Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.R. Ammar; J.N. Rouzaud; C.E. Vaudey; N. Toulhoat; N. Moncoffre

HAL : hal-00752450, version 1

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Carbon 48 (2010) 1244-1251

Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.R. Ammar¹, J.N. Rouzaud², C.E. Vaudey³, N. Toulhoat^{3, 4}, N. Moncoffre³

(2010)

1 :	CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation

2 :	LGE - Laboratoire de géologie de l'ENS

3 :	IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon

4 :	CEA-DEN - CEA-Direction de l'Energie Nucléaire

Domaine

Chimie/Matériaux


hal-00752450, version 1
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Contributeur : Mohamed Ramzi Ammar <>
Soumis le : Jeudi 15 Novembre 2012, 17:34:20
Dernière modification le : Jeudi 15 Novembre 2012, 17:34:20