Characteristics and window thicknesses of ion implanted semiconductor detectors

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IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1970, 17, pp.24-32
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Contributeur : Yvette Heyd <>
Soumis le : mardi 2 janvier 2001 - 13:13:14
Dernière modification le : mardi 2 janvier 2001 - 13:13:14

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  • HAL Id : in2p3-00007963, version 1

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P. Sebillotte, P. Siffert, A. Coche. Characteristics and window thicknesses of ion implanted semiconductor detectors. IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1970, 17, pp.24-32. 〈in2p3-00007963〉

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