Damage induced by high electronic stopping power in SiO$_2$ quartz - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 1990

Damage induced by high electronic stopping power in SiO$_2$ quartz

M. Toulemonde
Institut de Recherches Subatomiques
E. Balanzat
  • Fonction : Auteur
S. Bouffard
  • Fonction : Auteur
J.J. Grob
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques
M. Hage-Ali
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques
J.P. Stoquert
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques

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https://hal.in2p3.fr/in2p3-00016158

Soumis le : jeudi 29 juin 2000-08:13:33

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00016158 , version 1 (29-06-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00016158 , version 1

Citer

M. Toulemonde, E. Balanzat, S. Bouffard, J.J. Grob, M. Hage-Ali, et al.. Damage induced by high electronic stopping power in SiO$_2$ quartz. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 1990, 46, pp.64. ⟨in2p3-00016158⟩

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