Surface secondary electron and secondary ion emission induced by large molecular ion impacts - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue International journal of mass spectrometry and ion processes Année : 1993

Surface secondary electron and secondary ion emission induced by large molecular ion impacts

A. Brunelle
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
P. Chaurand
  • Fonction : Auteur
S. Della Negra
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
Y. Le Beyec
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
G.B. Baptista
  • Fonction : Auteur

Domaines

Physique Nucléaire Expérimentale [nucl-ex]

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Soumis le : mardi 12 décembre 2000-12:26:44

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

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Dates et versions

in2p3-00018232 , version 1 (12-12-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00018232 , version 1

Citer

A. Brunelle, P. Chaurand, S. Della Negra, Y. Le Beyec, G.B. Baptista. Surface secondary electron and secondary ion emission induced by large molecular ion impacts. International journal of mass spectrometry and ion processes, 1993, 126, pp.65-73. ⟨in2p3-00018232⟩

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