http://hal.in2p3.fr/in2p3-00018417
Contributeur : Yvette Heyd
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Soumis le : mercredi 20 décembre 2000 - 13:32:26
Dernière modification le : mercredi 20 décembre 2000 - 13:32:26
J.J. Grob, A. Grob, P. Siffert. Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon. Le Vide, 1974, 29, pp.374-379. 〈in2p3-00018417〉
