Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon

J.J. Grob 1 A. Grob 1 P. Siffert 1
1 IReS - Institut de Recherches Subatomiques
Type de document :
Article dans une revue
Le Vide, 1974, 29, pp.374-379
Liste complète des métadonnées
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00018417
Contributeur : Yvette Heyd <>
Soumis le : mercredi 20 décembre 2000 - 13:32:26
Dernière modification le : mercredi 20 décembre 2000 - 13:32:26

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00018417, version 1

Collections

DRS-IPHC | CGE

Citation

J.J. Grob, A. Grob, P. Siffert. Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon. Le Vide, 1974, 29, pp.374-379. <in2p3-00018417>

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

87

Contact

support.ccsd.cnrs.fr
hal.support@ccsd.cnrs.fr
Logo CCSD