Article Dans Une Revue
Electronic Device Failure Analysis
Année : 2007
Ludovic Le Noan : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00321170
Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-15:10:49
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Citer
H. Guégan. Use of a nuclear microprobe in electronic device characterization. Electronic Device Failure Analysis, 2007, 9, pp.14-19. ⟨10.1361/edfa0904p14⟩. ⟨in2p3-00321170⟩
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