Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL

M. Chartier 1 G. Auger 1 W. Mittig 1 A. Lepine-Szily 1 D. Bibet 1 J.M. Casandjian 1 M. Chabert 1 L.K. Fifield J. Fermé 1 A. Gillibert 2 M. Lewitowicz 1 M. Mac Cormick 1 M.H. Moscatello 1 N.A. Orr 3 E. Plagnol 4 C. Ricaud 1 C. Spitaels 1 A.C.C. Villari 1
1 GANIL - Grand Accélérateur National d'Ions Lourds
2 IRFU - Institut de Recherches sur les lois Fondamentales de l'Univers
3 LPCC - Laboratoire de Physique Corpusculaire de Caen
4 IPNO - Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
Type de document :
Communication dans un congrès
XXIV Mazurian Lakes School of Physics Meeting, Aug 1995, Piaski, Poland. 27, pp.451-456, 1996
Liste complète des métadonnées
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00652683
Contributeur : Michel Lion <>
Soumis le : vendredi 16 décembre 2011 - 10:18:53
Dernière modification le : mercredi 4 janvier 2017 - 16:20:19

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  • HAL Id : in2p3-00652683, version 1

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IN2P3 | GANIL | IPNO | LPC-CAEN | DSM-GANIL | DSM-IRFU | CEA | COMUE-NORMANDIE | LPCC-SN

Citation

M. Chartier, G. Auger, W. Mittig, A. Lepine-Szily, D. Bibet, et al.. Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL. XXIV Mazurian Lakes School of Physics Meeting, Aug 1995, Piaski, Poland. 27, pp.451-456, 1996. <in2p3-00652683>

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