Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1996

Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL

Domaines

Physique Nucléaire Expérimentale [nucl-ex]

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https://hal.in2p3.fr/in2p3-00652683

Soumis le : vendredi 16 décembre 2011-10:18:53

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

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Dates et versions

in2p3-00652683 , version 1 (16-12-2011)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00652683 , version 1

Citer

M. Chartier, G. Auger, W. Mittig, A. Lepine-Szily, D. Bibet, et al.. Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL. XXIV Mazurian Lakes School of Physics Meeting, Aug 1995, Piaski, Poland. pp.451-456. ⟨in2p3-00652683⟩

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