Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL

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Communication dans un congrès
XXIV Mazurian Lakes School of Physics Meeting, Aug 1995, Piaski, Poland. 27, pp.451-456, 1996


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Contributeur : Michel Lion <>
Soumis le : vendredi 16 décembre 2011 - 10:18:53
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M. Chartier, G. Auger, W. Mittig, A. Lepine-Szily, D. Bibet, et al.. Mass measurement of secondary ions of A=100 in the vicinity of 100Sn using the second cyclotron of GANIL. XXIV Mazurian Lakes School of Physics Meeting, Aug 1995, Piaski, Poland. 27, pp.451-456, 1996. <in2p3-00652683>

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