HAL : hal-00326851, version 1

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Microelectronics Reliability, 48 (2008) 1354-1360

Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation

Yannick Deshayes1, Isabelle Bord1, Gérard Barreau2, Mourad Aiche2, Philippe Moretto2, Laurent Béchou1, A.C. Roherig, Yves Ousten1

(2008)

1 :	IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
2 :	CENBG - Centre d'Etudes Nucléaires de Bordeaux Gradignan

Domaine

:

Sciences de l'ingénieur/Electronique

hal-00326851, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326851

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00326851

Contributeur : Isabelle Bord <>

Soumis le : Lundi 6 Octobre 2008, 11:10:41

Dernière modification le : Mardi 25 Août 2009, 15:34:26