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Microelectronics Reliability, 48 (2008) 1354-1360
Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Yannick Deshayes1, Isabelle Bord1, Gérard Barreau2, Mourad Aiche2, Philippe Moretto2, Laurent Béchou1, A.C. Roherig, Yves Ousten1
(2008)
1 :  IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
2 :  CENBG - Centre d'Etudes Nucléaires de Bordeaux Gradignan
Sciences de l'ingénieur/Electronique