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International Conference on Amorphous Semiconductors - Science and Technology 14 ICAS 14, Garmisch-Partenkirchen : Germany
Kinetics of formation of silicides in a-Si:H/Pd interfaces monitored by in situ ellipsometry and Kelvin probe techniques
I Cabarrocas P. Roca, M. Stchakovsky, B. Drevillon, F. Fortuna1, H. Bernas1
(1991)
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse