HAL : in2p3-00001964, version 1

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International Conference on Amorphous Semiconductors - Science and Technology 14 ICAS 14, Garmisch-Partenkirchen : Germany

Kinetics of formation of silicides in a-Si:H/Pd interfaces monitored by in situ ellipsometry and Kelvin probe techniques

I Cabarrocas P. Roca, M. Stchakovsky, B. Drevillon, F. Fortuna1, H. Bernas1

(1991)

1 :	CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse

in2p3-00001964, version 1

http://hal.in2p3.fr/in2p3-00001964

oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00001964

Contributeur : Jocelyne Lorgeril <>

Soumis le : Vendredi 7 Mai 1999, 10:57:39

Dernière modification le : Vendredi 7 Mai 1999, 10:57:39