245 articles – 3648 Notices  [english version]
HAL : in2p3-00001972, version 1

Fiche détaillée  Récupérer au format
International Conference on Metallurgical Coatings 17 International Thin Film Conference 8, San Diego : États-Unis
Incorporation of -OH radicals in anodic silicon oxide films studied by secondary-ion mass spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and IR analysis
I. Montero, L. Galan, E. De La Cal, J.M. Albella, J.C. Pivin1
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse