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International Conference on Metallurgical Coatings 17 International Thin Film Conference 8, San Diego : États-Unis
Incorporation of -OH radicals in anodic silicon oxide films studied by secondary-ion mass spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and IR analysis
I. Montero, L. Galan, E. De La Cal, J.M. Albella, J.C. Pivin1
(1990)
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse