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Publications du CSNSM |  |
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Publications du CSNSM | |
| HAL : in2p3-00002138, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Journal de Microscopie et de Spectroscopie Electronique 9 (1984) 75-94 |
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| Critical overview of some techniques for thin films analysis |
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| J.C. Pivin1 |
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| (1984) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| in2p3-00002138, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00002138 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00002138 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Mercredi 19 Mai 1999, 09:58:25 | |
| Dernière modification le : Mercredi 19 Mai 1999, 09:58:25 | |
