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Publications du CSNSM |  |
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Publications du CSNSM | |
| HAL : in2p3-00002152, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 3, Budapest : Hongrie |
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| Use of ionic implantation for quantification of SIMS analysis in metals and oxides-Application to corrosion studies |
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| J.C. Pivin1D. LoisonC. Roques-CarmesJ. Chaumont1A.M. HuberG. Morillot |
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| (1982) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| Thème(s) | : | Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs |
| in2p3-00002152, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00002152 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00002152 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Mercredi 19 Mai 1999, 14:42:12 | |
| Dernière modification le : Mercredi 19 Mai 1999, 14:42:12 | |
