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International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 3, Budapest : Hongrie
Use of ionic implantation for quantification of SIMS analysis in metals and oxides-Application to corrosion studies
J.C. Pivin1, D. Loison, C. Roques-Carmes, J. Chaumont1, A.M. Huber, G. Morillot
(1982)
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse
Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs