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Publications du CSNSM |  |
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Publications du CSNSM | |
| HAL : in2p3-00002158, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Journal of Applied Physics 51 (1980) 4158-4163 |
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| Variation of secondary ion emission yield with atomic concentrations of Fe, Ni, and Cr ternary alloys and oxides: application to the analysis of thin oxide films |
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| J.C. Pivin1C. Roques-CarmesG. Slodzian |
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| (1980) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| in2p3-00002158, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00002158 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00002158 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Mercredi 19 Mai 1999, 15:23:12 | |
| Dernière modification le : Mercredi 19 Mai 1999, 15:23:12 | |
