243 articles – 3617 Notices  [english version]
HAL : in2p3-00002158, version 1

Fiche détaillée  Récupérer au format
Journal of Applied Physics 51 (1980) 4158-4163
Variation of secondary ion emission yield with atomic concentrations of Fe, Ni, and Cr ternary alloys and oxides: application to the analysis of thin oxide films
J.C. Pivin1, C. Roques-Carmes, G. Slodzian
(1980)
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse