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International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2 SIMS-II, Stanford : États-Unis
Influence of atomic concentrations on ion emission yields of alloys flooded with oxygen
C. Roques-Carmes, J.C. Pivin1, G. Slodzian
(1980)
1 :  CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse