| HAL : in2p3-00002163, version 1 |
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| International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2 SIMS-II, Stanford : United States |
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| Influence of atomic concentrations on ion emission yields of alloys flooded with oxygen |
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| C. Roques-CarmesJ.C. Pivin1G. Slodzian |
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| (1980) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| in2p3-00002163, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00002163 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00002163 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Mercredi 19 Mai 1999, 15:53:18 | |
| Dernière modification le : Mercredi 19 Mai 1999, 15:53:18 | |