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Canadian Journal of Physics 50 (1972) 278-286
Measurement of branching ratios and lifetimes of levels in $^{30}$Si(from the $^{27}$Al($\alpha$,p, $\gamma$) reaction)
A. Gallmann1, F. Haas1, M. Toulemonde1
(1972)
1 :  IReS - Institut de Recherches Subatomiques
Physique/Physique Nucléaire Expérimentale