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Journal of Applied Physics 56 (1984) 1878-1880
Direct measurement of the maximum depth phase change of crystal silicon under pulsed laser irradiation
M. Toulemonde1, R. Heddache1, F. Nielsen1, P. Siffert1
(1984)
1 :  IReS - Institut de Recherches Subatomiques
Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs