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Physical Review Letters 63 (1989) 1930-1933
Electron-impact ionization and energy loss of 27 MeV/u Xe$^{35}$ incident ions channeled in silicon
S. Andriamonje1, R. Anne2, N.V. De Castro Faria, M. Chevallier3, C. Cohen, J. Dural, M.J. Gaillard3, R. Genre3, M. Hage-Ali4, R. Kirsch3, A. L'Hoir, B. Farizon-Mazuy3, J. Mory, J. Moulin, J.-C. Poizat3, Y. Quere, J. Remillieux3, D. Schmaus, M. Toulemonde5
(1989)
1 :  CENBG - Centre d'Etudes Nucléaires de Bordeaux Gradignan
2 :  GANIL - Grand Accélérateur National d'Ions Lourds
3 :  IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon
4 :  IReS - Institut de Recherches Subatomiques
5 :  CIRIL (GANIL) - Centre Interdisciplinaire de Recherche Ions Lasers
CAS-PHABIO