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Mapping of the onset of a new region of deformation: the masses of $^(31)$Mg and $^(32)$Mg Detraz C., Langevin M., Goffri-Kouassi M.C., Guillemaud D., Epherre M. et al Nuclear Physics A 394 (1983) 378-386 [in2p3-00014501 - version 1]

Beta -delayed alpha -emission from neutron-rich nuclei: the case of $^(30)$Na Detraz C., Langevin M., Guillemaud-Mueller D., Mueller A.C., Thibault C. et al Nuclear Physics A 402 (1983) 301-310 [in2p3-00001413 - version 1]

Fission from saddle to exit : influence of curvature and compression energies Treiner J., Hasse R.W., Schuck P. Journal de Physique Lettres 44, 17 (1983) 733-739 [jpa-00232257 - version 1]

STUDY OF SOME OPTICAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF HEAVILY DOPED SILICON LAYERS Slaoui A., Fogarassy E., Muller J., Siffert P. Dans Journal de Physique Colloques - Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223089 - version 1]

DEPTH MEASUREMENT OF THE PHASE CHANGE UNDER PULSED RUBY LASER ANNEALING Toulemonde M., Heddache R., Nielsen F., Siffert P. Dans Journal de Physique Colloques - Laser-Solid Interactions and Transient Thermal processing of Materials, France (1983) [jpa-00223093 - version 1]

PULSED ELECTRON BEAM ANNEALING OF As AND B IMPLANTED SILICON Barbier D., Chemisky G., Grob J., Laugier A., Siffert P. et al Dans Journal de Physique Colloques - Congress on Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223118 - version 1]

ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DE LA DIFFUSION INDUITE PAR LASER Broutet F., Desoyer J., Fogarassy E., Siffert P. Dans Journal de Physique Colloques - Interactions Laser-Solides, Recuits par Faisceaux d'Energie / Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223119 - version 1]

PULSED LASER AND ELECTRON BEAM INDUCED DIFFUSION OF ANTIMONY IN SILICON Fogarassy E., Siffert P., Barbier D., Chemisky G., Laugier A. Dans Journal de Physique Colloques - Congress On Laser-Solid Interactions And Transient Thermal Processing Of Materials, France (1983) [jpa-00223124 - version 1]

ANALYSIS AND ORIGIN OF POINT DEFECTS IN SILICON AFTER LIQUID PHASE TRANSIENT ANNEALING Mesli A., Muller J., Siffert P. Dans Journal de Physique Colloques - Interactions Laser-Solides, Recuits par Faisceaux d'Energie / Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223129 - version 1]

ELECTRON SPIN RESONANCE INVESTIGATION OF THE EFFECTS OF THE H2+ IMPLANTATION AND DIFFUSION ONE THE LASER INDUCED DEFECTS IN VIRGIN SILICON Goltzene A., Meyer B., Schwab C., Muller J.C., Siffert P. Dans Journal de Physique Colloques - Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223132 - version 1]