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fulltext access STUDY OF SOME OPTICAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF HEAVILY DOPED SILICON LAYERS
Slaoui A., Fogarassy E., Muller J., Siffert P.
in Journal de Physique Colloques - Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223089 - version 1]
fulltext access DEPTH MEASUREMENT OF THE PHASE CHANGE UNDER PULSED RUBY LASER ANNEALING
Toulemonde M., Heddache R., Nielsen F., Siffert P.
in Journal de Physique Colloques - Laser-Solid Interactions and Transient Thermal processing of Materials, France (1983) [jpa-00223093 - version 1]
fulltext access PULSED ELECTRON BEAM ANNEALING OF As AND B IMPLANTED SILICON
Barbier D., Chemisky G., Grob J., Laugier A., Siffert P. et al
Dans Journal de Physique Colloques - Congress on Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223118 - version 1]
fulltext access ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DE LA DIFFUSION INDUITE PAR LASER
Broutet F., Desoyer J., Fogarassy E., Siffert P.
Dans Journal de Physique Colloques - Interactions Laser-Solides, Recuits par Faisceaux d'Energie / Laser-Solid Interactions and Transient Thermal Processing of Materials, France (1983) [jpa-00223119 - version 1]
fulltext access PULSED LASER AND ELECTRON BEAM INDUCED DIFFUSION OF ANTIMONY IN SILICON
Fogarassy E., Siffert P., Barbier D., Chemisky G., Laugier A.
Dans Journal de Physique Colloques - Congress On Laser-Solid Interactions And Transient Thermal Processing Of Materials, France (1983) [jpa-00223124 - version 1]