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| HAL : emse-00436299, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Revue de Physique Appliquee 433-439 (1978) 433-439 |
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| Emploi de la réaction résonnante 1H(15N, ay) pour l'obtention de profils de concentration d'hydrogène dans les matériaux |
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| J.-P. Thomas1Christophe Pijolat2M. Fallavier1 |
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| Institut de Physique Nucléaire (et IN2P3), Université Lyon-1 43, Bd du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex (France) Collaboration(s) |
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| (1978) |
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| Experimental results of hydrogen depth profiling in materials, using the resonant nuclear reaction 1H(15N, ay) (Er-6385 keV) are presented here. Such an analysis can be performed with a 2 500 kV accelerator. Among the problems inherent to such an ion beam analysis, we discuss the influence of the vacuum quality, of the surface state of the targets and of the in-depth hydrogen stability. Nevertheless it turns out that the analytical performances of the method (depth resolution of 50 Å, analysing depth about one micron and sensitivity down to 50 ppm in silicon) make it potentially the most attractive of the nuclear methods. Various examples are given about the prblems encountered and the performances reported. |
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| 1 : | IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon |
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| 2 : | LPMG-EMSE - Laboratoire des Procédés en Milieux Granulaires |
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| domaine | : | Sciences de l'ingénieur/Génie des procédés |
| emse-00436299, version 1 | |
| http://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00436299 | |
| oai:hal-emse.ccsd.cnrs.fr:emse-00436299 | |
| Contributeur : Andrée-Aimée Toucas | |
| Soumis le : Jeudi 26 Novembre 2009, 11:53:36 | |
| Dernière modification le : Jeudi 26 Novembre 2009, 11:53:36 | |
