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| HAL : in2p3-00001081, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Journal of Physics D 23 (1990) 877-883 |
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| In situ defect studies on Si$^+$ implanted InP |
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| P. Zheng1M.O. Ruault1O. Kaitasov1J. CrestouB. DescoutsP. KrauzN. Duhamel |
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| (1990) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| in2p3-00001081, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00001081 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00001081 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Lundi 29 Mars 1999, 16:20:35 | |
| Dernière modification le : Lundi 29 Mars 1999, 16:20:35 | |
