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| HAL : in2p3-00001625, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Philosophical Magazine A 50 (1984) 667-675 |
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| High resolution and in situ investigation of defects in Bi-irradiated Si |
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| M.O. Ruault1J. Chaumont1J.M. PenissonA. Bourret |
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| (1984) |
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| 1 : | CSNSM - Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse |
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| Thème(s) | : | Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs |
| in2p3-00001625, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00001625 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00001625 | |
| Contributeur : Jocelyne Lorgeril | |
| Soumis le : Vendredi 16 Avril 1999, 11:04:05 | |
| Dernière modification le : Vendredi 16 Avril 1999, 11:04:05 | |
