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| HAL : in2p3-00007963, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| IEEE Transactions on Nuclear Science 17 (1970) 24-32 |
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| Characteristics and window thicknesses of ion implanted semiconductor detectors |
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| P. SebillotteP. Siffert1A. Coche1 |
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| (1970) |
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| 1 : | IReS - Institut de Recherches Subatomiques |
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| in2p3-00007963, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00007963 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00007963 | |
| Contributeur : Yvette Heyd | |
| Soumis le : Mardi 2 Janvier 2001, 13:13:14 | |
| Dernière modification le : Mardi 2 Janvier 2001, 13:13:14 | |
