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Nuclear Instruments and Methods 117 (1974) 579-
Thin layers composition and impurities determination using low energy proton X-ray excitation
J.-P. Thomas1, L. Porte1, J. Engerran, J-C. Viala, J. Tousset1
(1974)
1 :  IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon