 |
 |
 |
|
|
|
| HAL : in2p3-00018417, version 1 |
| Fiche concise |  Récupérer au format |
|
|
| Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon Grob J.J., Grob A., Siffert P. Le Vide 29 (1974) 374-379 - http://hal.in2p3.fr/in2p3-00018417 |
|
|
|
|
| Titre : | |
Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Auteur : | |
J.J. Grob1A. Grob1P. Siffert1 | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Laboratoire : | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Type de publication : | |
Articles dans des revues avec comité de lecture | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Date de publication ou d'écriture : |
|
1974 | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Nom du périodique : | |
Le Vide | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Volume : | |
29 | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| Page/Article : | |
374-379 | ||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
| in2p3-00018417, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00018417 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00018417 | |
| Contributeur : Yvette Heyd | |
| Soumis le : Mercredi 20 Décembre 2000, 13:32:26 | |
| Dernière modification le : Mercredi 20 Décembre 2000, 13:32:26 | |
