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Applied Physics Letters 54 (1989) 1235-1237
Inhomogeneous defect activation by rapid thermal processes in silicon
V. Thong-Quat1, W. Eichhammer, P. Siffert1
(1989)
1 :  IReS - Institut de Recherches Subatomiques
Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs