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| HAL : jpa-00243186, version 1 |
| DOI : 10.1051/rphysap:0196900402014301 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Revue de Physique Appliquee 4, 2 (1969) 143-144 |
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| Échantillonneur pour analyse simultanée des événements X, Y et XY |
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| A. Muser1J. Zen1J.D. Michaud1F. Scheibling1 |
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| (1969) |
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| En analyse biparamétrique, il est souvent nécessaire de connaître en plus du spectre X Y les deux spectres simples X et Y sans tenir compte des corrélations qui existent entre eux. Il est important d'utiliser les mêmes codeurs pour les deux types de spectres. L'augmentation du temps mort qui en résulte est réduite par une méthode d'échantillonnage. Le principe de la méthode et la logique des circuits permettant l'analyse simultanée des informations simples et corrélées sont décrits. |
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| 1 : | IReS - Institut de Recherches Subatomiques |
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| Domaine | : | Physique/Articles anciens Physique/Physique Nucléaire Expérimentale |
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| logic circuits |
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| Liste des fichiers attachés à ce document : | |||||
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| jpa-00243186, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00243186 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:jpa-00243186 | |
| Contributeur : Archives Journal de Physique | |
| Soumis le : Mercredi 1 Janvier 1969, 08:00:00 | |
| Dernière modification le : Mardi 25 Mars 2008, 21:07:45 | |
