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Revue de Physique Appliquee 13, 5 (1978) 213-218
Observation comparative du déplacement ionique dans les couches minces de PbF2 β et de CaF2 par diffusion Rutherford
J.D. Pistre, Y. Danto, J. Salardenne, B. Saboya1, J.F. Chemin1
(1978)

Des couches minces de PbF2 β et de CaF2, dont les conductivités ioniques sont très différentes, ont été analysées par rétro-diffusion de particules α. On a pu observer, dans le cas de PbF2, une variation importante du rapport des concentrations fluor/plomb dans l'épaisseur de la couche, correspondant à une accumulation de fluor du côté du faisceau incident. Cet effet est atténué dans les couches de CaF2. L'interprétation des résultats est basée sur l'existence d'un nombre important de défauts créés par le faisceau, et sur leur déplacement sous l'effet de la charge superficielle due à l'émission secondaire d'électrons.
1 :  CENBG - Centre d'Etudes Nucléaires de Bordeaux Gradignan
Physique/Articles anciens

Physique/Physique Nucléaire Expérimentale
calcium compounds – ionic conduction in solids – lead compounds – particle backscattering – ionic migration – CaF sub 2 – thin films – Rutherford scattering – film layer depth – defects – surface charge – secondary electron emission – beta PbF sub 2 – alpha particle backscattering – F to Pb concentration ratio
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