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| HAL : jpa-00245969, version 1 |
| DOI : 10.1051/rphysap:019880023090144500 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Revue de Physique Appliquee 23, 9 (1988) 1445-1451 |
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| Les faisceaux du VIVITRON |
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| A. Nadji1F. Haas1G. Heng1J. Hoffmann1Ch. Muller1R. Rebmeister1 |
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| (1988) |
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| Dans le VIVITRON, il est prévu d'accélérer une cinquantaine de faisceaux de nature différente et d'énergie variable pouvant atteindre 20 MeV/n pour les ions lourds « légers » et 5 MeV/n pour les ions les plus lourds ( A ∼ 200). L'obtention de ces faisceaux avec les excellentes qualités propres aux machines électrostatiques nécessite cependant la mise en oeuvre d'une sélection fine en masse à l'injecteur, d'une sélection en charge après épluchage (gaz ou feuille) au niveau de l'électrode centrale ainsi qu'une sélection en charge et en masse dans un aimant d'analyse placé après la machine et ayant des capacités de déviation adaptées aux faisceaux délivrés ( K = 500). |
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| 1 : | IReS - Institut de Recherches Subatomiques |
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| Domaine | : | Physique/Articles anciens Physique/Physique Nucléaire Expérimentale |
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| beam handling techniques – ion accelerators – particle beam diagnostics – charge selection – VIVITRON beams – electrostatic accelerators – fine mass resolution – injector – stripping – mass selection – bending capacities |
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| Liste des fichiers attachés à ce document : | |||||
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| jpa-00245969, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00245969 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:jpa-00245969 | |
| Contributeur : Archives Journal de Physique | |
| Soumis le : Vendredi 1 Janvier 1988, 08:00:00 | |
| Dernière modification le : Mercredi 12 Mars 2008, 14:25:21 | |
