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| HAL : jpa-00246020, version 1 |
| DOI : 10.1051/rphysap:01989002401011700 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| Revue de Physique Appliquee 24, 1 (1989) 117-131 |
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| Mise au point d'un microscope à effet tunnel |
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| A. Brenac1M. Rebouillat1L. Porte1 |
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| (1989) |
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| La conception et la réalisation d'un microscope à effet tunnel sont présentées. On discute de la partie mécanique et de la façon de réaliser l'isolation vis-à-vis des vibrations. Le comportement de la boucle d'asservissement qui contrôle la distance pointe-échantillon est analysée en détail. Les effets parasites dus aux perturbations électriques sont également pris en compte. Les possibilités de ce microscope sont démontrées avec quelques images du graphite et de métaux réalisées à l'air. |
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| 1 : | IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon |
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| Domaine | : | Physique/Articles anciens Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs |
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| scanning tunnelling microscopy – design – scanning tunneling microscope – mechanical structure – vibration isolation – feedback loop – parasitic effects – electrical perturbations – graphite – metals – C |
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| Liste des fichiers attachés à ce document : | |||||
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| jpa-00246020, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00246020 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:jpa-00246020 | |
| Contributeur : Archives Journal de Physique | |
| Soumis le : Dimanche 1 Janvier 1989, 08:00:00 | |
| Dernière modification le : Lundi 17 Mars 2008, 15:18:39 | |
