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HAL : jpa-00246020, version 1

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Mise au point d'un microscope à effet tunnel
Brenac A., Rebouillat M., Porte L.
Revue de Physique Appliquee 24, 1 (1989) 117-131 - http://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00246020
Physique/Articles anciens
Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs
Mise au point d'un microscope à effet tunnel
A. Brenac1, M. Rebouillat1, L. Porte1
1 :  IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon
http://www.ipnl.in2p3.fr/
CNRS : UMR5822 – IN2P3 – Université Claude Bernard - Lyon I
France
La conception et la réalisation d'un microscope à effet tunnel sont présentées. On discute de la partie mécanique et de la façon de réaliser l'isolation vis-à-vis des vibrations. Le comportement de la boucle d'asservissement qui contrôle la distance pointe-échantillon est analysée en détail. Les effets parasites dus aux perturbations électriques sont également pris en compte. Les possibilités de ce microscope sont démontrées avec quelques images du graphite et de métaux réalisées à l'air.
Français
1989

Revue de Physique Appliquee
non spécifiée
Articles dans des revues avec comité de lecture
1989
24
1
117-131

scanning tunnelling microscopy – design – scanning tunneling microscope – mechanical structure – vibration isolation – feedback loop – parasitic effects – electrical perturbations – graphite – metals – C

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ajp-rphysap_1989_24_1_117_0.pdf(2.7 MB)