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Étude de la passivation du silicium dans des conditions d'irradiation électronique de faible énergie
Cluzel R.
Thèses. Université Claude Bernard - Lyon I (29/11/2010), Pierre Depasse;Rémi Barbier (Dir.)
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Étude de la passivation du silicium dans des conditions d'irradiation électronique de faible énergie
Romain Cluzel1
1 :  IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon
http://www.ipnl.in2p3.fr/
CNRS : UMR5822 – IN2P3 – Université Claude Bernard - Lyon I
France
Silicon passivation study under low energy electron irradiation conditions
Thèses
29/11/2010
L'illumination par la face arrière amincie des imageurs CMOS est une des voies étudiées pour accroître le rapport signal à bruit et ainsi la sensibilité de ce capteur. Or cette configuration est adaptée à la détection des électrons dans la gamme d'énergie [[1 ; 12 keV]. L'électron incident crée, par multiplication, plusieurs centaines d'électrons secondaires, proche de la surface. Une couche de passivation par surdopage P++ de la face arrière est nécessaire afin de réduire le nombre de recombinaisons de surface des électrons. Par effet de champ électrique, la couche de passivation augmente le nombre de charges collectées, et ainsi le gain de collection du capteur. L'objectif de cette thèse est de développer des moyens de caractérisation pour déterminer in situ les performances sur le gain de collection de six procédés de passivation. Préalablement, le profil de dépôt d'énergie de l'électron incident est étudié au moyen d'une simulation Monte-Carlo puis d'un modèle analytique. Un modèle associé du gain de collection indique qu'à forte énergie, l'effet miroir de la passivation est déterminant tandis qu'à faible énergie, l'épaisseur de la passivation est un facteur clef. Une première expérience d'irradiation de diodes étendues P++=N permet de dégager l'influence du procédé de passivation sur les recombinaisons de surface. Grâce à une seconde caractérisation de type < événement unique >, directement sur capteur CMOS aminci, les passivations sont discriminées quant à leur effet miroir et l'étalement de la charge qu'elles induisent. Le recuit laser d'activation des dopants peut s'avérer une source d'inhomogénéités du gain sur la surface de la matrice
Backside illuminated thinned CMOS imaging system is a technology developed to increase the signal to noise ratio and the sensibility of such sensors. This configuration is adapted to the electrons detection from the energy range of [1 - 12 keV]. The impinging electron creates by multiplication several hundreds of secondary electrons close to the surface. A P++ highly-doped passivation layer of the rear face is required to reduce the secondary electron surface recombination rate. Thanks to the potential barrier induced by the P++ layer, the passivation layer increases the collected charges number and so the sensor collection gain. The goal of this study is to develop some experimental methods in order to determine the effect of six different passivation processes on the collection gain. Beforehand, the energy profile deposited by an incident electron is studied with the combination of Monte-Carlo simulations and some analytical calculations. The final collection gain model shows that the mirror effect from the passivation layer is a key factor at high energies whereas the passivation layer has to be as thin as possible at low energies. A first experimental setup which consists in irradiating P++=N large diodes allows to study the passivation process impacts on the surface recombinations. Thanks to a second setup based on a single event upset directly on thinned CMOS sensor, passivation techniques are discriminated in term of mirror effect and the implied spreading charges. The doping atoms activation laser annealing is turn out to be a multiplication gain inhomogeneity source impacting directly the matrix uniformity
Physique/Physique

Université Claude Bernard - Lyon I
Ecole doctorale de Physique et d'Astrophysique
2010LYO10238
Français

Pierre Depasse;Rémi Barbier
Pierre Magnan(président);Jérôme Baudot;Stéphane Demiguel;Guo-Neng Lu;Guy Blaise;Christian Morel(rapporteur);Christophe De la Taille(rapporteur)

Electrons – Irradiations – Capteurs CMOS – Simulation Monte-Carlo – Couche epitaxiale – Optronique
Electron;Iradation;CMOS sensor;Monte-Carlo simulation;Epitaxial layer;Opto-electronic
29/11/2010
Université Claude Bernard - Lyon I
Ecole doctorale de Physique et d'Astrophysique
2010LYO10238
Pierre Depasse;Rémi Barbier
Pierre Magnan(président);Jérôme Baudot;Stéphane Demiguel;Guo-Neng Lu;Guy Blaise;Christian Morel(rapporteur);Christophe De la Taille(rapporteur)
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