HAL : in2p3-00004061, version 1

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International Conference On Modern Trends In Activation Analysis, Muenchen : Allemagne

Backscattering analysis of the thermal diffusion of gold layers into amorphous semiconductor thin films

S. Marsaud, J.-P. Thomas1, M. Fallavier1, J.-M. Mackowski1, J. Tousset1

(1977)

1 :	IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon

in2p3-00004061, version 1

http://hal.in2p3.fr/in2p3-00004061

oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00004061

Contributeur : Sylvie Florès <>

Soumis le : Mercredi 8 Mars 2000, 09:22:58

Dernière modification le : Mercredi 8 Mars 2000, 09:22:58