Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.-R. Ammar; J.-N. Rouzaud; C.-E. Vaudey; N. Toulhoat; N. Moncoffre

HAL : in2p3-00455723, version 1

DOI : 10.1016/j.carbon.2009.11.049

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Carbon 48 (2010) 1244-1251

Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.-R. Ammar¹, J.-N. Rouzaud¹, C.-E. Vaudey², N. Toulhoat^{2, 3}, N. Moncoffre²

(2010)

1 :	LGE - Laboratoire de géologie de l'ENS

2 :	IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon

3 :	CEA-DEN - CEA-Direction de l'Energie Nucléaire

Thème(s)

Physique/Physique/Chimie-Physique


in2p3-00455723, version 1
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00455723
oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00455723
Contributeur : Sylvie Florès <>
Soumis le : Jeudi 11 Février 2010, 08:53:35
Dernière modification le : Jeudi 11 Février 2010, 08:54:37