1022 articles – 5249 Notices  [english version]
HAL : in2p3-00609765, version 1

Fiche détaillée  Récupérer au format
Physical Review B 84 (2011) 024119
Measurements of high energy loss rates of fast highly charged U ions channeled in thin silicon crystals
C. Ray1, A. Bräuning-Demian, H. Bräuning, M. Chevallier1, C. Cohen2, D. Dauvergne1, A. L'Hoir2, C. Kozhuharov, D. Liesen, P. H. Mokler, J.-C. Poizat1, Th. Stöhlker, E. Testa1, M. Toulemonde
(2011)
1 :  IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon
2 :  INSP - Institut des Nanosciences de Paris
CAS-PHABIO
Physique/Physique/Physique Atomique