HAL : in2p3-00609765, version 1

DOI : 10.1103/PhysRevB.84.024119

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Physical Review B 84 (2011) 024119

Measurements of high energy loss rates of fast highly charged U ions channeled in thin silicon crystals

C. Ray1, A. Bräuning-Demian, H. Bräuning, M. Chevallier1, C. Cohen2, D. Dauvergne1, A. L'Hoir2, C. Kozhuharov, D. Liesen, P. H. Mokler, J.-C. Poizat1, Th. Stöhlker, E. Testa1, M. Toulemonde

(2011)

1 :	IPNL - Institut de Physique Nucléaire de Lyon
2 :	INSP - Institut des Nanosciences de Paris

équipe(s) de recherche : CAS-PHABIO

Thème(s)

:

Physique/Physique/Physique Atomique

in2p3-00609765, version 1

http://hal.in2p3.fr/in2p3-00609765

oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00609765

Contributeur : Sylvie Florès <>

Soumis le : Mercredi 20 Juillet 2011, 08:29:47

Dernière modification le : Mercredi 20 Juillet 2011, 09:34:57