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Xenon migration in UO2 under irradiation studied by SIMS profilometry
Marchand B., Moncoffre N., Pipon Y., Bérerd N., Garnier C. et al
Journal of Nuclear Materials 440, 1-3 (2013) 562-567 [hal-00881201 - version 1]
Xenon migration in UO2: A SIMS study
Marchand B., Moncoffre N., Pipon Y., Garnier C., Bérerd N. et al
Progress in Nuclear Energy 57 (2012) 147-149 [hal-00641104 - version 1]
Dispositif d'Irradiation d'Agrégats Moléculaires (DIAM)
Peaucelle C.
Journées Accélérateurs de la SFP, France (2009) [in2p3-00424099 - version 1]