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In-vacuum optical isolation changes by heating in a Faraday isolator
Acernese F., Alshourbagy M., Amico P., Antonucci F., Aoudia S. et al
Applied Optics 47 (2008) 5853-5861 [in2p3-00346825 - version 1]
Amorphous semiconductor thin films characterization by nuclear microanalysis
Thomas J.-P., Fallavier M., Mackowski J.-M., Pijolat C., Tousset J. et al
Journal of Radioanalytical Chemistry 55, 2 (1980) 427-443 [emse-00436105 - version 1]