| HAL : in2p3-00018474, version 1 |
| Fiche détaillée | Récupérer au format |
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| Nuclear Instruments and Methods 112 (1973) 465-467 |
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| Thin dE/dx detector of uniform thickness made on epitaxial silicon |
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| J.P. Ponpon1P. Siffert1F. Vazeille2 |
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| (1973) |
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| 1 : | IReS - Institut de Recherches Subatomiques |
| 2 : | LPC-CLERMONT - Laboratoire de Physique Corpusculaire de Clermont-Ferrand |
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| Thème(s) | : | Physique/Physique/Instrumentations et Détecteurs |
| in2p3-00018474, version 1 | |
| http://hal.in2p3.fr/in2p3-00018474 | |
| oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00018474 | |
| Contributeur : Yvette Heyd | |
| Soumis le : Vendredi 22 Décembre 2000, 08:02:32 | |
| Dernière modification le : Vendredi 22 Décembre 2000, 08:02:32 | |