Beam test results of an ion-implanted silicon strip detector on a 100 mm wafer

I. Hietanen; J. Lindgren; R. Orava; T. Tuuva; R. Brenner; M. Andersson; K. Leinonen; H. Ronkainen; L. Hubbeling; M. Turala; P. Weilhammer; W. Dulinski; D. Husson; A. Lounis; M. Schffer; R. Turchetta; J. Chauveau

HAL : in2p3-00017884, version 1

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Research: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 305 (1991) 173-176

Beam test results of an ion-implanted silicon strip detector on a 100 mm wafer

I. Hietanen, J. Lindgren, R. Orava, T. Tuuva, R. Brenner, M. Andersson, K. Leinonen, H. Ronkainen, L. Hubbeling, M. Turala, P. Weilhammer, W. Dulinski, D. Husson, A. Lounis, M. Schffer, R. Turchetta, J. Chauveau¹

(1991)

1 :	LPNHE - Laboratoire de Physique Nucléaire et de Hautes Énergies

Thème(s)

Physique/Physique des Hautes Energies - Expérience


in2p3-00017884, version 1
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00017884
oai:hal.in2p3.fr:in2p3-00017884
Contributeur : Jean-Michel Levy <>
Soumis le : Lundi 23 Octobre 2000, 13:58:04
Dernière modification le : Mardi 25 Avril 2006, 12:17:15