Light elements quantitative X-ray microanalysis of thin samples in STEM, absorption correction using EELS data - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physics D: Applied Physics Année : 2003

Light elements quantitative X-ray microanalysis of thin samples in STEM, absorption correction using EELS data

V. Banchet
J. Michel
  • Fonction : Auteur
Edouard Jallot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 864690
Laboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand
D. Laurent-Maquin
  • Fonction : Auteur
G. Balossier
  • Fonction : Auteur

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Biophysique [physics.bio-ph]

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Soumis le : lundi 23 juin 2003-11:15:20

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

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Dates et versions

in2p3-00012887 , version 1 (23-06-2003)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00012887 , version 1

Citer

V. Banchet, J. Michel, Edouard Jallot, D. Laurent-Maquin, G. Balossier. Light elements quantitative X-ray microanalysis of thin samples in STEM, absorption correction using EELS data. Journal of Physics D: Applied Physics, 2003, 36, pp.1599-1604. ⟨in2p3-00012887⟩

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