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Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 1990

Sensitivity of trace-element analysis by X-ray emission induced by 0.1-10 MeV electrons

A.P. Georgiadis
  • Fonction : Auteur
D. Apostolakis
  • Fonction : Auteur
M. Vourkas
  • Fonction : Auteur
A. Pape
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques

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Soumis le : jeudi 4 mai 2000-15:07:16

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

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in2p3-00015455 , version 1 (04-05-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00015455 , version 1

Citer

A.P. Georgiadis, D. Apostolakis, M. Vourkas, A. Pape. Sensitivity of trace-element analysis by X-ray emission induced by 0.1-10 MeV electrons. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 1990, 50, pp.321. ⟨in2p3-00015455⟩

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