Article Dans Une Revue
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Année : 1988
Suzanne Robert : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00016565
Soumis le : vendredi 25 août 2000-15:05:56
Dernière modification le : vendredi 2 juin 2023-15:36:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00016565 , version 1
Citer
G. Bolbach, R. Beavis, S. Della Negra, C. Deprun, W. Ens, et al.. Variation of yield with thickness in sims and pdms: measurements of secondary ion emission from organized molecular films. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 1988, 30, pp.74-82. ⟨in2p3-00016565⟩
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