High resolution depth profiling of light elements in high atomic mass materials - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Année : 1983

High resolution depth profiling of light elements in high atomic mass materials

Sylvie Flores  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.in2p3.fr/in2p3-00004065

Soumis le : mercredi 8 mars 2000-09:36:15

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00004065 , version 1 (08-03-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00004065 , version 1

Citer

J.-P. Thomas, M. Fallavier, D. Ramdane, N. Chevarier, A. Chevarier. High resolution depth profiling of light elements in high atomic mass materials. International Conference On Ion Beam Analysis 6, May 1983, Tempe, United States. pp.125-128. ⟨in2p3-00004065⟩

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