Radiative electron capture by 60 MeV/A highly charged Kr ions channeled in a silicon single crystal - Amplitude and line shape analysis - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1993

Radiative electron capture by 60 MeV/A highly charged Kr ions channeled in a silicon single crystal - Amplitude and line shape analysis

S. Andriamonje
  • Fonction : Auteur
M. Chevallier
CAS-PHABIO
D. Dauvergne
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
R. Kirsch
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
J.-C. Poizat
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
J. Remillieux
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
H. Rothard
Institut de Physique Nucléaire de Lyon
CV

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https://hal.in2p3.fr/in2p3-00008247

Soumis le : mardi 6 février 2001-15:15:31

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00008247 , version 1 (06-02-2001)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00008247 , version 1

Citer

S. Andriamonje, M. Chevallier, D. Dauvergne, R. Kirsch, J.-C. Poizat, et al.. Radiative electron capture by 60 MeV/A highly charged Kr ions channeled in a silicon single crystal - Amplitude and line shape analysis. International Conference PEAC 18, Jul 1993, Aarhus, Germany. ⟨in2p3-00008247⟩

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