Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Le Vide Année : 1974

Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon

J.J. Grob
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques
A. Grob
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques
P. Siffert
  • Fonction : Auteur
Institut de Recherches Subatomiques

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https://hal.in2p3.fr/in2p3-00018417

Soumis le : mercredi 20 décembre 2000-13:32:26

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00018417 , version 1 (20-12-2000)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-00018417 , version 1

Citer

J.J. Grob, A. Grob, P. Siffert. Evaluation of heavy ion energy losses in silicon due to a channelling phenomenon. Le Vide, 1974, 29, pp.374-379. ⟨in2p3-00018417⟩

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