De nombreux projets se développent autour des sources de lumière dans le domaine des rayons X basées sur des anneaux de stockage avec des énergies d'électrons de l'ordre de 20 -70 MeV. Cette faible énergie, ainsi que la forte focalisation au point d'interaction nécessaire au rendement de l'interaction Compton entrainent une dégradation des caractéristiques du faisceau d'électrons lors du cycle de stockage. Celle ci est principalement due à l'interaction Compton ainsi qu'à l'effet Touschek multiple (Intrabeam scattering). Comme l'amortissement est négligeable par rapport au temps de stockage, ces dégradations ont un impact non négligeable à la fois sur le flux de photons rétrodiffusés mais aussi sur ces caractéristiques spectrales. Cette présentation introduira les besoins des utilisateurs en terme de flux, de propriétés spectrales et de dimensions de la source X en insistant sur la dépendance des élargissements inhomogènes avec la dispersion en énergie et l'émittance. Ensuite, les modèles utilisés pour décrire la dégradation d'émittance par l'effet Touschek multiple, et de la dispersion en énergie par l'interaction Compton seront détaillés. Nous terminerons par une évaluation des performances de la source THOMX en tenant compte de la dynamique des électrons et de l'interaction Compton sur un cycle de stockage.