Stabilité thermique et propriétés thermoélectriques des couches minces Mg2(Si,Sn) déposées par co-pulvérisation assistée par plasma micro-onde - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2014

Stabilité thermique et propriétés thermoélectriques des couches minces Mg2(Si,Sn) déposées par co-pulvérisation assistée par plasma micro-onde

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-01128596 , version 1 (10-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : in2p3-01128596 , version 1

Citer

C. Prahoveanu, A. Lacoste, C. De Vaulx, K. Azzouz, Stéphane Béchu, et al.. Stabilité thermique et propriétés thermoélectriques des couches minces Mg2(Si,Sn) déposées par co-pulvérisation assistée par plasma micro-onde. 12èmes Journées d’Echange du Réseau Plasmas Froids, Oct 2014, La Rochelle, France. ⟨in2p3-01128596⟩
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