Extracting information from partially depleted Si detectors with digital sampling electronics - IN2P3 - Institut national de physique nucléaire et de physique des particules Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Extracting information from partially depleted Si detectors with digital sampling electronics

G. Pastore
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G. Pasquali
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S. Barlini
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M. Bini
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Eric Bonnet
G. Casini
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M. Cinausero
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J.A. Duenas
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P. Edelbruck
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F. Gramegna
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A. Kordyasz
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T. Kozik
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O. Lopez
T. Marchi
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L. Morelli
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A. Olmi
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A. Ordine
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S. Piantelli
G. Poggi
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E. Rosato
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F. Salomon
G. Spadaccini
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A.A. Stefanini
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S. Valdre
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E. Vient
T. Twarog
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R. Alba
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C. Maiolino
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D. Santonocito
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Résumé

A study of the identification properties and of the energy response of a Si-Si-CsI(Tl) ΔE-E telescope exploiting a partially depleted second Si stage has been performed. Five different bias voltages have been applied to the second stage of the telescope, one corresponding to full depletion, the others associated with a depleted layer ranging from 60% to 90% of the detector thickness. Fragment identification has been obtained using either the ΔE-E technique or the Pulse Shape Analysis (PSA). Charge collection efficiency has been evaluated. The ΔE-E performance is not affected by incomplete depletion. Isotopic separation capability improves at lower bias voltages with respect to full depletion, though charge identification thresholds increase.
Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-01168867 , version 1 (26-06-2015)

Identifiants

Citer

G. Pastore, G. Pasquali, N. Le Neindre, G. Ademard, S. Barlini, et al.. Extracting information from partially depleted Si detectors with digital sampling electronics. International Workshop on Multi facets of Eos and Clustering (IWM-EC 2014), May 2014, Catania, Italy. pp.01013, ⟨10.1051/epjconf/201588010013⟩. ⟨in2p3-01168867⟩
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