Article Dans Une Revue
Measurement Science and Technology
Année : 1994
Yvette Heyd : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00015643
Soumis le : vendredi 19 mai 2000-09:13:10
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00015643 , version 1
Citer
J.C. Fontaine, S. Barthe, J.P. Ponpon, J.P. Schunck, P. Siffert. A simple procedure based on the pcd method for determination of recombination lifetime and surface recombination velocity in silicon. Measurement Science and Technology, 1994, 5, pp.47-50. ⟨in2p3-00015643⟩
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